Transmission electron microscopy of yeast

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Wright R (2000)
Transmission electron microscopy of yeast
Microsc Res Tech. 2000 Dec 15;51(6)
pp. 496–510

Exophiala dermatitidis, Stuhl-Isolat, Reis, 400-fache Vergrößerung

Candida albicans, Stuhl-Isolat, SG-Platte, Rand, 400fache Vergrößerung

Candida albicans, Mund-Isolat, Reis, Tage, 630fache Auflösung

Candida glabrata, Urin-Isolat, SG-Rand, 400-fache Vergrößerung, Kontrast

Transmissionselektronenmikroskopie (TEM); sekundäres Antiserum

Check-ups auf pathogene Hefen

Check-ups for pathogenic yeasts

Ursachenmedizinische Untersuchung und Behandlung krankmachender Pilzinfektionen.

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